2021
- Ing. Michal Kolmačka: Optimalizácia technológie syntézy nanokompozitov na báze uhlíkových nanorúrok v HF CVD reaktore
2018
- doc. Ing. Martin Weis, PhD.: Technológia prípravy a charakterizácia
prvkov organickej elektroniky
2017
- Ing. Andreas Weisze: New Methods of Impedance Analysis of Active Points on Human Skin
2016
- Ing. Michal Blaho: Nové technológie a ich využitie v GaN HEMT tranzistoroch
- Ing. Miroslav Petrus: Skúmanie elektrofyzikálnych vlastností polovodičových materiálov a prvkov spektroskopiou hlbokých hladín
2015
- Ing. Filip Gucmann: Kov-oxid-polovodič (MOS) štruktúry na GaAs
- Ing. Jaroslav Dzuba: Design of AlGaN/GaN MEMS pressure sensor for harsh environment
- Ing. Ivan Rýger: AlGaN/GaN based high electron mobility transistors and surface acoustic waves for hydrogen sensing
- Ing. Mamadou Seck: Combining Surface and Vertical Profile-Studies of Organic Materials in Solar Cells
- Ing. arch. Ľubomír Vančo: Vybrané problémy povrchovo zosilnenej Ramanovej spektroskopie (SERS)
- Ing. Jana Vereš Benkovská: Elektrická charakterizácia štruktúr na báze progresívnych polovodičových materiálov
2014
- Ing. Gábor Gyepes: Application of IDDT test in SRAM arrays towards detection of weak opens
- Ing. Michal Jurkovič: Vysoko-výkonové normálne-zatvorené spínacie tranzistory na báze GaN
- Ing. Mário Kotlár: Syntéza uhlíkových nanorúrok a ich využitie pre senzorické aplikácie
- Ing. Anton Kuzma: Fotonické prvky pre optické komunikačné systémy
- Ing. Marián Molnár: Návrh a charakterizácia progresívnych výkonových elektronických prvkov podporená modelovaním a simuláciou
- Ing. Michal Nemec: Diagnostika kremíkových heteroštruktúr pre moderné fotovoltické aplikácie
- Ing. Martin Predanocy: Miniatúrne senzory plynov na báze naprašovaných tenkých vrstiev oxidu niklu
- Ing. Juraj Priesol: Aplikácia metódy Monte Carlo v rastrovacej elektrónovej mikroskopii GaN štruktúr
- Ing. Karol Rendek: Diagnostika šumových vlastností tranzistorov GaN HEMT
2013
- Ing. Jakub Rybár: Skúmanie kvality polovodičových materiálov a štruktúr metódou DL TS
- Ing. Peter Telek: Vlastnosti elektroluminiscenčných diód pre spintronické aplikácie
- Ing. Daniel Arbet: Rozvoj parametrických metód pre vstavaný test analógových integrovaných obvodov
- Ing. Juraj Brenkuš: Metódy zvyšovania kvality parametrických testov pre analógové integrované obvody
- Ing. Ivan Košč: Zložené vrstvy na báze TiO2 a NiO na detekciu vodíka
- Ing. Juraj Pecháček: Elektrická charakterizácia schottkyho štruktúr s heteropriechodom AlGaN/GaN
- Ing. Patrik Príbytný: Návrh a analýza moderných výkonových elektronických prvkov podporená modelovaním a simuláciou
- Ing. Marián Varga: Diamond in Nanotechnology
